Naukowcy – specjaliści z dziedziny metrologii dyskutują w Kielcach o współczesnych problemach metrologii i nowych metodach i narzędziach pomiarowych.  Spotkanie odbywa się pod honorowym patronatem  rektora Politechniki Świętokrzyskiej, prof. Stanisława Adamczaka. Gościem Kongresu był wicemarszałek Grzegorz Świercz.

Kongres Metrologii organizowany jest co trzy lata i jest jedną z najważniejszych konferencji metrologicznych w kraju. Jego ideą  jest omówienie współczesnych problemów dotyczących szeroko rozumianej metrologii, czyli nauki o miarach i mierzeniu.